地表紫外光谱辐射计PCB抄板及芯片解密技术案例

　　该款专门为监测地表紫外线而设计的紫外光谱辐射计是世纪芯PCB抄板及芯片解密中心应客户的要求而仿制克隆的。仪器内部配有高性能的温度控制器，消除外界温度对仪器的误差，可在野外长时间监测地表紫外辐射。

　　技术参数：
　　测量波长：305，313，320，330，340，380，395nm及 PAR (400-700 nm)
　　工作环境：-50～+40℃
　　半能谱宽度：10 nm，可选20nm
　　采集速度：20 Hz
　　大小：15 cm（直径）*30 cm（长）
　　重量：7 kg
　　7通道的地表紫外监测
　　可测量PAR（400-700 nm）
　　内置温度控制，内部温度稳定在40℃
　　由外置电源模块供电，85-264 VAC， 47-63 Hz
　　RS-232输出
　　世纪芯集成电路有限公司在近二十年的从业时间了，在PCB抄板与设计及IC解密（芯片解密）等领域做出了卓越的贡献，在技术、经验以及信誉上都受到客户的广为好评。世纪芯集成电路有限公司将是您选择合作伙伴的首先对象，您还犹豫什么呢？